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光學(xué)顯微鏡在地質(zhì)分析中的應(yīng)用
點(diǎn)擊次數(shù):515 更新時間:2023-04-21
光學(xué)顯微鏡在地質(zhì)分析已成為常規(guī)研究技術(shù)之一,其優(yōu)勢首先在于光學(xué)檢測的無損性,對樣品的分析提供安全保障;其次是大距離景深,可以更清晰的觀測微區(qū)形貌;第三是微區(qū)形貌的3D建模和測量功能,可對微區(qū)物理結(jié)構(gòu)特征進(jìn)行量化表征。
偏光顯微鏡的作用及基礎(chǔ)認(rèn)識
1、單偏光下的晶體特性
礦物突起
礦物糙面
礦物形態(tài)
解理
礦物顏色
晶體的多色性與吸收性
2、正交偏光下的晶體特性
礦物雙晶的觀察
礦片消光類型及消光角的測定
干涉色
礦物延性符號的測定
3、錐光鏡下的晶體特性
確定一軸晶還是二軸晶
測定光性符號
測量光軸角的大小
部分巖石樣品成像效果
云母類相關(guān)樣品顯微鏡下成像效果
偏光顯微鏡也有許多配置可供選擇,比如:顯微鏡熱臺、陰極發(fā)光儀、分光光度計等多樣化應(yīng)用配置需求,滿足不同類型研究者的需求